AOI雖然具有比人工檢測更高的效率，但畢竟是通過(guò)圖像采集和分析處理來(lái)得出結果，而圖像分析處理的相關(guān)軟件技術(shù)目前還沒(méi)達到人腦的級別，因此，在實(shí)際使用中的一些特殊情況，AOI的誤判、漏判在所難免。目前AOI使用中存在的問(wèn)題有：（1）多錫、少錫、偏移、歪斜的工藝要求標準界定不同，容易導致誤判。（2）電容容值不同而規格大小和顏色相同，容易引起漏判。（3）字符處理方式不同，引起的極性判斷準確性差異較大。（4）大部分AOI對虛焊的理解發(fā)生歧義，造成漏判推諉。（5）存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點(diǎn)的檢測問(wèn)題。（6）BGA、FC等倒裝元件的焊接質(zhì)量難以檢測。（7）多數AOI編程復雜、繁瑣且調整時(shí)間長(cháng)，不適合科研單位、小型OEM廠(chǎng)、多規格小批量產(chǎn)品的生產(chǎn)單位。（8）多數AOI產(chǎn)品檢測速度較慢，有少數采用掃描方法的AOI速度較快，但誤判、漏判率更高。AOI在SMT各工序的應用在SMT中，AOI主要應用于焊膏印刷檢測、元件檢驗、焊后組件檢測。河源直銷(xiāo)SPI檢測設備價(jià)格行情

2.2解決相移誤差的新技術(shù)PMP技術(shù)中另一個(gè)主要的基礎條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過(guò)對投影光柵相位場(chǎng)進(jìn)行移相來(lái)增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來(lái)求解相位場(chǎng)。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息，所以可以得到更高精度的結果。傳統的方式都依靠機械移動(dòng)來(lái)實(shí)現相移。為達到精確的相移，都使用了比較高精度的馬達，如通過(guò)陶瓷壓電馬達（PZT），線(xiàn)性馬達加光柵尺等方式。并通過(guò)大量的算法來(lái)減少相移的誤差?？删幊探Y構光柵因為其正弦光柵是通過(guò)軟件編程實(shí)現的，所以其在相移時(shí)也是通過(guò)軟件來(lái)實(shí)現，通過(guò)此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”，提高了量測精度。并且此技術(shù)不需要機械部件，減少了設備的故障幾率，降低機械成本與維修成本。廣東全自動(dòng)SPI檢測設備技術(shù)參數檢測誤判的定義及存在原困誤判，歡迎了解詳細情況。

PCBA工藝常見(jiàn)檢測設備ATE檢測：AutomaticTestEquipment集成電路(IC)自動(dòng)測試機，用于檢測集成電路功能之完整性，為集成電路生產(chǎn)制造之終流程，以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。在所有的電子元器件(Device)的制造工藝里面，存在著(zhù)去偽存真的需要，這種需要實(shí)際上是一個(gè)試驗的過(guò)程。為了實(shí)現這種過(guò)程，就需要各種試驗設備，這類(lèi)設備就是所謂的ATE(AutomaticTestEquipment)。這里所說(shuō)的電子元器件DUT(DeviceUnderTest)，當然包括IC類(lèi)別，此外，還包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各個(gè)環(huán)節，具體的取決于工藝(Process)設計的要求。在元器件的工藝流程中，根據工藝的需要，存在著(zhù)各種需要測試的環(huán)節。目的是為了篩選殘次品，防止進(jìn)入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費用。這些環(huán)節需要通過(guò)各種物理參數來(lái)把握，這些參數可以是現實(shí)物理世界中的光，電，波，力學(xué)等各種參量，但是，目前大多數常見(jiàn)的是電子信號的居多。ATE設計工程師們要考慮的較多的，還是電子部分的參數比如，時(shí)間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數。就是電子學(xué)所說(shuō)的，信號處理。

結構光柵型SPIPMP又稱(chēng)PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學(xué)三維面形測量技術(shù)。通過(guò)獲取全場(chǎng)條紋的空間信息與一個(gè)條紋周期內相移條紋的時(shí)序信息，來(lái)完成物體三維信息的重建。由于其具有全場(chǎng)性、速度快、高精度、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)，這種技術(shù)已在工業(yè)檢測、機器視覺(jué)、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應用。目前大部分的在線(xiàn)SPI設備都已經(jīng)升級到此種技術(shù)。但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結構光柵與精確的相移，在實(shí)際系統中不可避免地存在著(zhù)光柵圖像的非正弦化，相移誤差與隨機誤差，它將導致計算位相和重建面形的誤差。雖然已經(jīng)出現了不少算法能降低線(xiàn)性相移誤差，但要解決相移過(guò)程中的隨機相移誤差問(wèn)題，還存在一定的困難。AOI檢測設備的作用有哪些呢？

AOI的發(fā)展需求集成電路（IC）當然是現今人類(lèi)工業(yè)制造出來(lái)結構較為精細的人造物之一，而除了以IC為主的半導體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。①微型元件或結構的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測，典型應用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測，典型應用就是針對工具機、航空航天器等高精度機械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測，具有高精度、量測條件多變等特點(diǎn)③生物醫學(xué)檢測應用，典型應用就是各式光學(xué)顯微鏡，結合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測解決相移誤差的新技術(shù)——PMP技術(shù)介紹。茂名多功能SPI檢測設備維保

素材查看 SMT錫膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生產(chǎn)工藝的重要環(huán)節，錫膏印刷質(zhì)量直接影響焊接質(zhì)量。河源直銷(xiāo)SPI檢測設備價(jià)格行情

在線(xiàn)SPI設備在實(shí)際應用中出現的一些問(wèn)題目前大部分的SMT工廠(chǎng)都已經(jīng)開(kāi)始導入在線(xiàn)SPI設備，但是在實(shí)際使用過(guò)程中，效果也因各廠(chǎng)對其重視程度而大不一樣。究其原因主要有幾下幾點(diǎn)：品質(zhì)重視不夠目前大部分的工廠(chǎng)（特別是代工廠(chǎng)）在產(chǎn)能的管控上都非常的嚴格。但是往往對品質(zhì)方面重視不夠。當錫膏不能達到SPI設備的管控范圍時(shí)，SPI一直會(huì )報警，沒(méi)有及時(shí)處理的話(huà)會(huì )嚴重影響產(chǎn)能。所以只要產(chǎn)線(xiàn)不出什么大問(wèn)題。都會(huì )把SPI的管控參數范圍設大，提高一次通過(guò)率，但是這樣往往也會(huì )把真實(shí)的不良流到下一制程，提高維修成本。目前有的工廠(chǎng)已經(jīng)在SPI后端接一個(gè)收板箱，當SPI測試OK的時(shí)候直接流入下一工序，Fail的時(shí)候會(huì )停留在收板箱里面。等作業(yè)人員來(lái)確認當前電路板的不良點(diǎn)位是否OK。一般SPI可以查詢(xún)十片電路板的不良信息，如不良點(diǎn)位，不良圖片等。也有的工廠(chǎng)已經(jīng)開(kāi)始把SPI與AOI相連接，通過(guò)AOI測試到的不良反饋給SPI來(lái)合理的設定測試范圍與參數，來(lái)提高一次通過(guò)率，減少不良流入下一工序。河源直銷(xiāo)SPI檢測設備價(jià)格行情

本文來(lái)自深圳豪萊廣告有限公司：http://www.kikuku.cn/Article/89a04899862.html